El Acelerómetro MEMS basado en silicio XDA-315 adopta un diseño compacto Paquete cerámico CLCC-14 y tecnología avanzada de detección MEMS. Es un dispositivo de alto rendimiento. Acelerómetro de 3 ejes de grado industrial presentando Bajo nivel de ruido, baja deriva de temperatura, excelente estabilidad a largo plazo y rendimiento de salida digital fiable..
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4Series de productos y parámetros
| Parámetro | Condiciones de prueba | Min | Tipo | Máximo | Unidad |
| Rango de medición | Seleccionable por el usuario | ±2, | g | ||
| ±8 | |||||
| -3 dB de ancho de banda | 12.5 | 1000 | Hz | ||
| No linealidad | ±2 g | 0.1 | % FS | ||
| ±8 g | 1.2 | ||||
| Sensibilidad del eje transversal | 1 | % | |||
| Sensibilidad | ±2 g | 256.000 | LSB/g | ||
| ±8 g | 64.000 | ||||
| Cambio de sensibilidad debido a la temperatura | 1σ, entre -40 y 85 °C | ±0,01 | %/°C | ||
| Repetibilidad de la sensibilidad | 1σ, a 25 °C | 0,16 | % | ||
| Salida de compensación de 0 g | Eje X, eje Y y eje Z | −75 | ±25 | 75 | mg |
| Desplazamiento de 0 g frente a la temperatura | −40°C ~ +85°C | -0,15 | ±0,02 | 0,15 | mg/°C |
| Repetibilidad de desplazamiento de 0 g | Eje X y eje Y | ±2 | mg | ||
| Eje Z | ±3 | ||||
| Error de rectificación de vibraciones (VRE) | rango de ±2 g, en una orientación de 1 g, | <0,4 | g | ||
| desplazamiento debido a una vibración de 2,5 g rms | |||||
| Inestabilidad del sesgo, Allan | Eje X y eje Y | 4 | μg | ||
| Eje Z | 9 | ||||
| Densidad espectral de ruido | 20 | μg/√Hz | |||
| Paseo aleatorio de velocidad | Eje X y eje Y | 7.5 | mm/s/√Hr | ||
| Eje Z | 10.5 | ||||
| Cambio en la salida de la autoprueba | Eje X y eje Y | 0,7 | 1.1 | g | |
| Eje Z | 0,2 | 0,6 | |||
| Velocidad de datos de salida | Fsysclk/32 | kHz | |||
| Resolución de salida | 20 | Bits | |||
| Tiempo de encendido | En espera para el modo de medición | < 10 | ms | ||
| Sensor de temperatura Salida a 25 °C (T25) Factor de escala (TSF) | |||||
| 5017.6 | LSB | ||||
| 133,8 | LSB/°C |
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