El Acelerómetro MEMS basado en silicio XDA-205 adopta un diseño compacto Paquete cerámico CLCC-14 y tecnología avanzada de detección MEMS. acelerómetro de doble eje de grado industrial características Alta estabilidad, bajo nivel de ruido, baja deriva de temperatura, excelente estabilidad a largo plazo y rendimiento de salida digital fiable. para aplicaciones industriales exigentes.
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4Series de productos y parámetros
| Parámetro | Condiciones de prueba | Min | Tipo | Máximo | Unidad |
| Rango de medición | Seleccionable por el usuario | ±2, | g | ||
| ±3 | |||||
| -3 dB de ancho de banda | 1000 | Hz | |||
| No linealidad | 0.1 | % FS | |||
| Sensibilidad del eje transversal | 1 | % | |||
| Sensibilidad | ±2 g | 256.000 | LSB/g | ||
| ±3 g | 168.000 | ||||
| Cambio de sensibilidad debido a la temperatura | 1σ, entre -40 y 85 °C | ±0,01 | %/°C | ||
| Repetibilidad de la sensibilidad | 1σ, a 25 °C | 0,16 | % | ||
| Salida de compensación de 0 g | −10 | ±5 | 10 | mg | |
| Desplazamiento de 0 g frente a la temperatura | −40°C ~ +85°C | -0,08 | ±0,02 | 0,08 | mg/°C |
| Error de rectificación de vibraciones (VRE) | rango de ±2 g, en una orientación de 1 g, desplazamiento debido a una vibración de 2,5 g rms | <0,4 | g | ||
| Densidad espectral de ruido | 20 | µg/√Hz | |||
| Paseo aleatorio de velocidad | Eje X y eje Y | 7.5 | mm/s/√Hr | ||
| Cambio en la salida de la autoprueba | 0,8 | 1 | g | ||
| Velocidad de datos de salida | Fsysclk/32 | kHz | |||
| Resolución de salida | 20 | Bits | |||
| Tiempo de encendido | En espera para el modo de medición | < 10 | ms | ||
| Consumo actual | Modo de medición Modo de espera | 450 | uA | ||
| 20 | |||||
| Sensor de temperatura Salida a 25 °C (T25) Factor de escala (TSF) | 4959.2 134,66 | LSB LSB/°C |
proceso de producción
Dimensiones del producto


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